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测试延迟自动生成器

来源:未知 编辑:admin 时间:2019-05-09

  在电压调整器负载特性的测试中,测试设备一般采用电容组充、放电,以输出具有一定脉宽的大电流,并将其提供给“特测器件”(DUT,Device Under Test)的输出端作为负载电流。由于电容效应,该电流无法在t=0时刻达到器件手册中的规定值,因而在电流源开启后,必须经一段才能进行输出采样。延迟时间的取值对测试影响较大,过小则负载电流尚未达规定值,测试无效;过大将影响测试速度,造成经济损失。

  ASL-1000是美国Credence公司研制的IC测试设备,已在业界普遍应用。在其电压调整器的常规测试电路中,接入两只内部继电器并外接一只1Ω/5W的电阻,同时辅助以相应的测试软件,从而构成了一套延迟时间电路,如图1所示。

  图1中,DVI-9-CH0提供DUT输入电压,PV3-2提供负载电流(图中略)。DVI-9-CH1与DVI-11-CH1分别采样测试。以集成稳压器CW7812为例,合上MUX-1-1和MUX-2-1,当DUT负载电流为0.5A时,由于电阻压降,两测试端采样到的电压应相差0.5V,表1是经不同延迟时间后获得的测量值。

  由表1数据可得负载电流与时间的关系示意图,如图2所示。显然,延迟时间应稍大于T1并小于T2,才能使测试既准确又经济,且不同芯片负载特性的差异会使T1、T2也随之改变。鉴于此,笔者设计了一套延迟时间方案:合上继电器,两测试端同时采样。设初始延迟时间为10μs,以100μs为步进,循环增加,直到两测试端同次测值压差不小于0.5V且同一端前后两次测值之差不大于1mV,方可认定此时负载电流已达到0.5A。为避免进入死循环,程序设置了时间溢出(time_over),一旦延迟时间超出,程序退出并报错,此时需配合其它参数的测试,检查DUT是否已失效。正常测试时,要断开MUX-2-1。

  经以上程序,在测得CW7812实际输出电压Vout 的同时,可自动获得测试所需的延迟时间(timedelay),且在后续其它参数的测试中,延迟时间可延用此数值。如此,既满足了测试要求,又最大限度的节省了测试时间。本方法适用于其它所有电压调整器的测试,并可推广到其它测试设备中。

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